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By Albrecht P. Ströle

Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und attempt zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch intestine testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.

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In der Tabelle ist 1 - Qnt angegeben, also die Wahrscheinlichkeit, daB die Zelle mindestens einen Fehler enthalt. Insgesamt wurden aus den Zellen der Bibliothek 4973 Fehler extrahiert. Aufgrund der prlizisen Beschreibung der Fehler ist die Anzah! der extrahierten Fehler zwar viel groBer als die Anzah! 2). Aber nach einer Fehlersimulation konnen alle Netzlistenfehler, die das gleiche fehlerhafte Verhalten ergeben, zusarnmengefaBt und ihre Wahrscheinlichkeiten addiert werden. Nach der Extraktion wurden die Fehler klassifiziert.

Urn den Einbau von Testhilfsrnitteln rnodellieren zu konnen, wird der Schnitt eines Speicherknotens irn Schaltungsgraphen eingeftihrt. Dabei wird ein Speicherelernent durch einen prirnliren Eingang und einen prirnaren Ausgang ersetzt. 3: Sei G = (V, E) ein Schaltungsgraph mit V = Vc u Vs u I u 0, VEVS, v'e: V. - {(x, y) I x=v' " (v, Y)E E} u (E \ { (x, y) I x=v }) Ou {v}, VS{v):= Vs \ {v}, definierte Schaltungsgraph G{v) := (V {v), E{v)) heiBt Schnitt von G in v. 2 graphisch den Schnitt eines Speicherknotens.

B. die Briicken- und Unterbrechungsfehler von Kapitel 2. Zusatzlich werden die Belegungen der Bauelementeingange ermittelt, die am Bauelementausgang eine 0 bzw. eine 1 einstellen, und die partiellen Belegungen, die das fehlerhafte Signal von einem Bauelementeingang zum Bauelementausgang durchschalten (fUr Bauelemente mit mehreren Ausgangen entsprechend). Diese Informationen tiber die Bauelemente werden in einer Bibliothek gespeichert. Urn aus den lokalen Testmustern Testmuster fUr die komplette Schaltung zu gewinnen, mtissen tiber die primaren Eingange die lokalen Testmuster an den Bauelementeingangen eingestellt und die Antworten von den Bauelementausgangen zu den primaren Ausgangen weitergeleitet werden.

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